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惠普HP4193A 阻抗分析仪图1

惠普HP4193A 阻抗分析仪

2023-10-31 16:44330报价

安捷伦惠普HP4193A 阻抗分析仪


主要用途
测试材料的阻抗Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻抗计量器具检定系统Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments   
JJG 2011-87代替:高频阻抗量值传递系统
射频阻抗计量器具检定系统
本检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的
R,L,C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯
上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法


一、计量基准器具
1、高频集总参数阻抗的国jia计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高
频阻抗量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备
和量具。
2、射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括:
 2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性论
计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗***测量装置。空气介质
同轴线也是微波阻抗国jia基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:反射系数模值|г|:1.000±0.002;    相角:±180°±0.5°。
 2.2高频阻高频阻抗***测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,经过准确度论证分析,***高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:
    频率:(1-1000)MHz
    反射系数模值|г|:1.000±(0.003-0.007)
    相角θ:±180°±0.5°;
    阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ±(0.5-10)%
    电容C:10pF-100nF±(0.2-10)%;
    电感L:10nH-100μH±(0.2-10)%
    损耗:tgδ(D)0.001-0.5±<(0.002-0.05)


回收销售:

美国原装NI-PCI系列数据采集

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