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供应半导体X射线膜厚测试仪图1

供应半导体X射线膜厚测试仪

2013-12-23 15:012370询价

电话:0755-29371651拨打电话

品牌:美国博曼
发货:3天内
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 线路板博曼膜厚测试仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器,保证镀层厚度品质,减少电镀成本浪费 产品副名称:应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.博曼膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 
 
美国博曼(BOWMAN)膜厚测试仪测量电镀、PCB等各种金属镀层的厚度,使用安全简便,坚固耐用节省维护费用,高分辨率探测器硅PIN检测器250 ev,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。  
 
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